检测软(ruǎn)包电芯(xīn)外表(biǎo)面蓝(lán)包膜各种缺(quē)陷
检(jiǎn)测精度
(mm)
0.05
漏检(jiǎn)率(功能性缺陷)
(%)
0
漏检率(lǜ)(非功能性(xìng)缺陷)
(%)
<0.5
过杀率
(%)
<2
检测(cè)项目
包膜侧面气泡、侧(cè)面褶皱、直角边刮痕(hén)、膜内异(yì)物、表面污物(wù)、破损、翘起、起(qǐ)皱、擦痕、壳(ké)体(tǐ)凹点(diǎn)、壳体凹痕、极柱腐(fǔ)蚀、极柱发黄等(děng)50多项(xiàng)
设(shè)备优势
基于自研(yán)TimesAI平台,支持二次开发,实现模型(xíng)快速迭(dié)代;实现(xiàn)致(zhì)命缺陷(xiàn)0漏检;采用检(jiǎn)测+分割模(mó)型,检(jiǎn)出外观缺(quē)陷(xiàn)。
投资回报
替代4~6名质检(jiǎn)工人
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